서명 펜의 출현 평행 측정을 위한 점등 검사 시스템

서명 펜의 출현 평행 측정을 위한 점등 검사 시스템

시스템 특징

점검 원리

이 시스템은 장비에 의해 결함 제품의 처리를 용이하게 하기 위해, 펜의 병렬 처리 검출을 위해 사용됩니다.

기술적인 설계

머신 비전 화상 처리 기술을 기반으로 하는 KEYE 기술의 서명 펜 병렬 처리 검출은고 정밀도, 고속도와 멀티샘플의 특성을 가집니다. 시스템의 메인 모듈은 다음과 같습니다 : 기동 모듈과 가이드 모듈. 사용자의 필요성에 따르면, 펜과 정착물의 수평화와 수직 상태를 발견하고, 그리고 나서 검출 위치에 검출 요구를 완료하고 샘플을 이동하기 위해 이중 정지 검출을 필요로 하고 카메라와 출력을 일으킵니다 비젼 시스템에 대한 검출 신호 제시간에, 검출 기능을 완료하기 위해 .

고정밀 검출 요구를 충족시키기 위해, 손으로 행해진 항목의 위치정확도를 향상시키는 것은 처음으로 필요하고 발효가 정확하고 안정 위치입니다. 매뉴얼 식이법 때문의, 기폭 장치, 때 샘플이 이 자리에 위치하고, 카메라가 일어나고, 비주얼 시스템 소프트웨어 해석 뒤에, 그것이 OK 제품이면, 그것이 NG 제품이면, 인터페이스가 0K를 드러낼 것입니다, 인터페이스가 NG 버저 경보인 NG을 드러낼 것이고.

점검 세부 사항

• 서명 펜의 평행을 측정하기 위한 점등 검사 시스템의 설계 설계. 점등 검사 시스템은 주로 다음을 포함합니다 : 카메라, 렌즈, 조명 공급원과 영상 처리 소프트 웨어. 조명 공급원이 검출 위치에 도달하는 표본을 밝힌 후, 화상 처리 시스템은 카메라를 구성했고 렌즈가 그것을 사로잡습니다.
• 카메라가 트리거 신호를 받을 때, 화상 처리 시스템은 샘플을 촬영하고, 이미지를 신분을 위한 영상 처리 시스템으로 전송하고, 샘플이 자격을 얻는지 아닌지 판단하고, 장비에 의해 후속 공정을 위한 상응하는 OK / NG 신호를 출력합니다.

장비의 장점

• 운용 정합은 작동하도록 명백하고 명백하고 단순하고 쉽고 탐지가 자동적으로 단순 세팅으로 실행될 수 있습니다 ;
• 검출 소프트웨어와 알고리즘은 완전히 독립적으로 개발되고 시스템이 대단히 표적이 됩니다 ;
• 검출 템플릿과 검출 범위는 유연하게 설정될 수 있습니다 ;
• 더 로컬 검출 기능은 검출 속도를 향상시키기 위해 선택될 수 있습니다 ;
• 운용 태스크의 완료를 보증하기 위한 전문적 조명 공급원 디자인, 명백하고 획일적 이미지화 ;
• 제품의 다양한 종류의 측정을 지원하고, 자동 탄 화물 온라인 검색과 같은 기능을 가지고 있습니다 ;
• 단순한 설치 ; 소형 결과가 작동하도록 쉬워 유지하고, 확대됩니다 ;
• 다양한 분야 운영 상태에 적합한 높은 신뢰도, 안정적인 작동.
• PC 플랫폼을 기반으로, 시스템은 강한 확장성을 가지고 있고 KVIS 머신 비전 소프트웨어 플랫폼이 다른 기능을 확대할 수 있습니다.